专利名称: 基于链式杂交反应及新型纳米材料的痕量muc1荧光检测方法
专利类别: 发明专利
申请号: 201910889280.9
申请日期: 2019.9.19
专利号:
第一发明人: 杨大威
其它发明人: 缪鹏,陈锡峰,孟凡渝
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