专利名称: 一种基于X射线的LED芯片缺陷自动检测设备及方法
专利类别: 发明
申请号: 201710829085.8
申请日期: 2017.09.14
专利号:
第一发明人: 吴中毅
其它发明人: 袁刚、郑健、马昌玉、刘兆邦、范梅生、杨晓冬
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