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科学研究
专利名称: 可降底噪的光学检测设备
专利类别: 发明专利
申请号: 202110295647.1
申请日期: 2021-03-19
专利号:
第一发明人: 尹焕才
其它发明人: 潘宇骏,钱庆,付威威,刘广兴,陈名利
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
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专利摘要:
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