专利名称: 自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法与装置
专利类别: PCT专利
申请号: PCT/CN2021/100042
申请日期: 2021-06-15
第一发明人: 何益
其它发明人: 陈一巍,邢利娜,孔文,史国华