结构光照明显微镜

　　结构光照明显微镜（SIM）将传统显微镜物镜探测不到的空间高频成分编码到采集的荧光图像中，再通过图像算法解码重构出超高分辨率图像，重建图像具有高于传统显微镜图像两倍的空间分辨率。 

    传统的SIM技术一般指线性结构光照明显微成像技术，在此基础上利用饱和结构光照明显微成像（SSIM）技术，也称为非线性SIM显微成像，通过设计对应的图像算法即可解码重构出非线性阶携带的高频成分，从而获得更高分辨率的图像。