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卡尔蔡司美国公司尉东光博士来所访问
发表日期: 2012-03-15 作者: 王亦乐
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尉东光博士为我所科研和管理人员做学术报告邓强副所长和科研、管理部门人员聆听报告

3月13日,卡尔蔡司美国公司尉东光博士来所访问。尉东光博士做了题为“Ion Beam Based Micro- and Nano- Fabrication and 3D Imaging”(基于离子束的微纳制造和三维成像技术)的报告,重点介绍了将扫描电子显微镜和离子束相结合,用于微纳加工和三维成像的新技术。邓强副所长以及科研、管理部门人员共三十多人参加了学术报告活动。

尉东光博士于1996年10月获得中国科学院山西煤化所与日本东京工业大学联合培养的有机化工专业博士学位。自1998年开始,分别在美国匹兹堡大学、新泽西理工学院从事煤基合成液体燃料技术、复合颗粒与纳米复合材料、纳米材料表征技术等方面的研究。先后获得美国专利1项,发表学术论文40余篇,SCI收录10篇、EI收录6篇。目前,尉博士在卡尔蔡司美国公司(Carl Zeiss SMT, Inc.)任应用技术部主任。主要从事电子显微及能谱技术在材料、化学及生物等表征中的应用开发与推广等工作。

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